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紫外輻照計 MKY-UV-313
紫外輻照計 MKY-UV-313
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
u 主要性能指標
※ 波長范圍及峰值波長：
UV－313探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm
※ 輻照度測量范圍：
(0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光：
UV313：小于0.05％
※ 余弦特性：
符合國家二級光照度標準
※ 示值相對誤差：
±10％
※ 響應(yīng)時間：
1秒
※ 使用環(huán)境：
溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
※ 尺寸和重量：
180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 電源：
9V積層電池（6F22型）一只
紫外輻照計 MKY-UV-313
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
u 主要性能指標
※ 波長范圍及峰值波長：
UV－313探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm
※ 輻照度測量范圍：
(0.1～199.9×103)μW/cm2
※ 紫外帶外區(qū)雜光：
UV313：小于0.05％
※ 余弦特性：
符合國家二級光照度標準
※ 示值相對誤差：
±10％
※ 響應(yīng)時間：
1秒
※ 使用環(huán)境：
溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
※ 尺寸和重量：
180mm×80mm×36mm；0.2kg
※ 電源：
9V積層電池（6F22型）一只
